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紫外分光光度计的系统组成原理
  • 发布日期:2017-06-15      浏览次数:1365
    •      紫外分光光度计按仪器工作原理的不同,有单光束分光光度计和双光束分光光度计之分。为满足紫外-真空紫外光学元件本体光谱传输特性测试的需要,并考虑到光学元件工作于紫外-真空紫外波段,为保证系统具有较高的信噪比,设计了一种紫外分光光度计,可以对直径小于200mm的紫外-真空紫外光学元件本体进行光谱传输特性测试,工作波段115~400nm,光谱分辨力0.5nm。
       
      紫外分光光度计的系统组成原理:
       
          紫外分光光度计由150w氘灯辐射源、前置超环面聚光镜、紫外-真空紫外单色仪、后置反射光学系统、光学调制器、样品/探测器转台、光电倍增管探测器、高压电源、锁相放大器、样品/探测器转台扫描控制器、波长扫描控制器、数据采集器及计算机控制系统组成,结构如图1所示。前置超环面聚光镜将氘灯光源成像于紫外-真空紫外单色仪的入射狭缝,从单色仪出射狭缝出射的光经后置反射光学系统准直,照射到样品。探测器围绕样品旋转并测量,测量入射光直接照射探测器及经样品透射或反射后照射探测器的输出信号,可给出样品的光谱透射率、光谱反射率、光谱漫反射率及光栅效率等。单色仪波长扫描、样品/探测器扫描和数据采集处理在计算机控制下进行。在光路中加入起偏器,可进行光学元件光谱偏振特性测试。引入光学调制器进行光学斩波-锁相放大,有利于提高电子学系统信噪比。锁相放大器通过ieee-488接口与机算机相接,便于数据采集处理。
     
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